2012/06/07 スマートカード技術セミナ開催
GoogleがNFCを採用するなどNFCの技術を搭載したスマートフォンの需要が急速に高まっております。
このトレンドをいち早く察知した弊社ではNFC搭載スマートフォンの接触、非接触部分の両方を通信解析できるテストツールに特に力を入れてきました。
そこで、NFCの技術を支えておられる皆様方が開発、メンテナンス業務をされる際により速く、正確にテストを実施可能なツールをこのたび用意させていただきました。
この度、これらのツールを皆様の開発及びメンテナンスでお役に立てて頂きたく、弊社のテストツールに関するセミナーを企画しました。
当セミナーではこれらのテストツールでご紹介させて頂くと共に実際にデモンストレーションを実施いたしますので製品の機能を実際にご覧頂けます。
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○● セミナー内容情報 ●○
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1、Keolabsが出すテストツールのプレゼンテーション
- スマートカードISO17025認証テストハウス「Soliatis LAB」がだすテストツール概要
- 接触型及び非接触型のスマートカードのプロトコルアナライザツールの紹介
- NFCFORUM, ISO10373-6, ISO10373-7, EMVCo等で必要な器具の紹介
- ISO14443, Felica, ISO15693, NFCIP1, NFCIP2, NFC Forum, ICAO, SWP, 7816....に関連するコンプライアンステストの紹介
2、NFCフォ-ンテストツールのデモンストレーション
- 接触部分(UICC、CLF)通信解析、コンプライアンステスト
3、NFCフォーンテストツールのデモンストレーション
- 非接触型部分(NFC Forum)通信解析、コンプライアンステスト
4、質疑応答
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◆ 会期 2012年6月7日(木)
- 受付13時~
- 開場13時15分~
- 閉場16時30分
◆ 会場 T’s渋谷フラッグ
- 〒150-0042東京都渋谷区宇田川町33-6Shibuya Flag (渋谷駅から徒歩5分程)
セミナーへご出席をご希望の方は必要項目をご記入の上、下記アドレス宛てにご連絡ください。
◆ ご連絡項目
- 会社名
- 部署
- お名前
- 電話番号
- ご興味のあるテスト
◆ 申し込み先: このメールアドレスはスパムボットから保護されています。閲覧するにはJavaScriptを有効にする必要があります。
- 尚、お申し込みは会場設置の関係上5月31日頃までにお願いいたします。
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ポジティブワン株式会社
Keolabs スマートカード・テストツール営業チーム
〒150-0043 東京都渋谷区道玄坂1-12-1
渋谷マークシティ・ウエスト22F
TEL 03-5330-8648 FAX 03-4360-5301
http://www.positive-one.com
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