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2012/06/07 スマートカード技術セミナ開催

 GoogleがNFCを採用するなどNFCの技術を搭載したスマートフォンの需要が急速に高まっております。

このトレンドをいち早く察知した弊社ではNFC搭載スマートフォンの接触、非接触部分の両方を通信解析できるテストツールに特に力を入れてきました。

そこで、NFCの技術を支えておられる皆様方が開発、メンテナンス業務をされる際により速く、正確にテストを実施可能なツールをこのたび用意させていただきました。

この度、これらのツールを皆様の開発及びメンテナンスでお役に立てて頂きたく、弊社のテストツールに関するセミナーを企画しました。

当セミナーではこれらのテストツールでご紹介させて頂くと共に実際にデモンストレーションを実施いたしますので製品の機能を実際にご覧頂けます。

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 ○● セミナー内容情報 ●○

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1、Keolabsが出すテストツールのプレゼンテーション

  • スマートカードISO17025認証テストハウス「Soliatis LAB」がだすテストツール概要
  • 接触型及び非接触型のスマートカードのプロトコルアナライザツールの紹介
  • NFCFORUM, ISO10373-6, ISO10373-7, EMVCo等で必要な器具の紹介
  • ISO14443, Felica, ISO15693, NFCIP1, NFCIP2, NFC Forum, ICAO, SWP, 7816....に関連するコンプライアンステストの紹介

2、NFCフォ-ンテストツールのデモンストレーション

  • 接触部分(UICC、CLF)通信解析、コンプライアンステスト  

3、NFCフォーンテストツールのデモンストレーション

  • 非接触型部分(NFC Forum)通信解析、コンプライアンステスト

4、質疑応答

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◆ 会期   2012年6月7日(木)

  • 受付13時~
  • 開場13時15分~
  • 閉場16時30分

◆ 会場   T’s渋谷フラッグ

  • 〒150-0042東京都渋谷区宇田川町33-6Shibuya Flag (渋谷駅から徒歩5分程)

セミナーへご出席をご希望の方は必要項目をご記入の上、下記アドレス宛てにご連絡ください。

◆ ご連絡項目 

  • 会社名
  • 部署
  • お名前
  • 電話番号
  • ご興味のあるテスト

◆ 申し込み先: このメールアドレスはスパムボットから保護されています。閲覧するにはJavaScriptを有効にする必要があります。

  • 尚、お申し込みは会場設置の関係上5月31日頃までにお願いいたします。

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ポジティブワン株式会社
Keolabs スマートカード・テストツール営業チーム
〒150-0043 東京都渋谷区道玄坂1-12-1
渋谷マークシティ・ウエスト22F
TEL 03-5330-8648 FAX 03-4360-5301
http://www.positive-one.com
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