ポジティブワン株式会社

2012/06/07 スマートカード技術セミナ開催

 GoogleがNFCを採用するなどNFCの技術を搭載したスマートフォンの需要が急速に高まっております。

このトレンドをいち早く察知した弊社ではNFC搭載スマートフォンの接触、非接触部分の両方を通信解析できるテストツールに特に力を入れてきました。

そこで、NFCの技術を支えておられる皆様方が開発、メンテナンス業務をされる際により速く、正確にテストを実施可能なツールをこのたび用意させていただきました。

この度、これらのツールを皆様の開発及びメンテナンスでお役に立てて頂きたく、弊社のテストツールに関するセミナーを企画しました。

当セミナーではこれらのテストツールでご紹介させて頂くと共に実際にデモンストレーションを実施いたしますので製品の機能を実際にご覧頂けます。

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　○●　セミナー内容情報　●○

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１、Keolabsが出すテストツールのプレゼンテーション

• スマートカードISO17025認証テストハウス「Soliatis LAB」がだすテストツール概要
• 接触型及び非接触型のスマートカードのプロトコルアナライザツールの紹介
• NFCFORUM, ISO10373-6, ISO10373-7, EMVCo等で必要な器具の紹介
• ISO14443, Felica, ISO15693, NFCIP1,　NFCIP2,　NFC Forum, ICAO, SWP, 7816....に関連するコンプライアンステストの紹介

２、NFCフォ-ンテストツールのデモンストレーション

• 接触部分(UICC、CLF)通信解析、コンプライアンステスト　　

３、NFCフォーンテストツールのデモンストレーション

• 非接触型部分(NFC　Forum)通信解析、コンプライアンステスト

４、質疑応答

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◆　会期　　　２０１２年６月７日（木）

• 受付１３時～
• 開場１３時１５分～
• 閉場１６時３０分

◆　会場　　　Ｔ’ｓ渋谷フラッグ

• 〒150-0042東京都渋谷区宇田川町33-6Shibuya Flag (渋谷駅から徒歩５分程）

セミナーへご出席をご希望の方は必要項目をご記入の上、下記アドレス宛てにご連絡ください。

◆　ご連絡項目　

• 会社名
• 部署
• お名前
• 電話番号
• ご興味のあるテスト

◆　申し込み先： このメールアドレスはスパムボットから保護されています。閲覧するにはJavaScriptを有効にする必要があります。

• 尚、お申し込みは会場設置の関係上５月３１日頃までにお願いいたします。

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ポジティブワン株式会社
Keolabs スマートカード・テストツール営業チーム
〒150-0043 東京都渋谷区道玄坂1-12-1
渋谷マークシティ・ウエスト22F
TEL 03-5330-8648 FAX 03-4360-5301
http://www.positive-one.com
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