スマートカード関連ツール Test suite 'PICC ANALOG - ISO14443 and ICAO'
'PICCのアナログテストスイート - ISO14443とICAO'
SOLIATISは、ISO14443（タイプA＆B）とICAOの仕様の«アナログ»部分を検証するためのテストスイートを提供しています。 このテストスイートは、カードのエミュレーションモードで近接型ICカード（近接集積回路カード）およびNFCIP - 2デバイスに適用されます。
テスト仕様書
- 次のISO10373-6のテスト仕様で定義されているISOのテスト・スクリプト：
識別カード - 試験方法 - part 6：近接カード(Proximity card)
- PICC負荷変調振幅試験（PICC Load modulation amplitude test）
- 交互磁場テスト（Alternating magnetic field test）
- PICCの伝送（PICC Transmission）
- PICCの受信（PICC Reception） - 次のICAOのテスト仕様で定義されてICAOのためのテストスクリプト：
電子パスポート用のRFプロトコルとアプリケーションの試験規格 - パート2
- レイヤ1のテスト/交互磁場テスト(Layer 1 tests / Alternating magnetic field test)
- レイヤ2のテスト/負荷変調振幅試験(Layer 2 tests / Load modulation amplitude test)
- レイヤ2のテスト/動作電界強度試験(Layer 2 tests / Operating field strength test)
- レイヤ2のテスト/通信の安定性試験(Layer 2 tests / Communication stability test)
オープンテストスイート
- テストスイートは、Soliatis社で開発されたSCRIPTIS Framework（ソフトウエア）をテストPCにインストールします。 制限修正が必要なスクリプト以外のテスト及びレポート作成を致します。 そして、テストや結果の分析を自動的に実行されます。
ユーザーは、このような立ち上がりエッジを、変調指数、フィールド、テストシーケンス、等に該当するものとしてのテストのすべての特性を制御できます 。 - テストスイートは、手動で校正を必要としません。 リーダーライターのコマンドとリーダーの校正上のすべての測定は、オシロスコープによって制御されます。 この機能は、フィールド電源、タイミングと屈折率変調の設定をカバーしています。
- 近接型ICカード用のアナログテストスイートは、リーダーからのトリガ機能を必要としません。 SOLIATISは、PCDコマンドとPICCの応答の自動トリガ機能を開発しています。 この特定の機能では、リーダーの特性から独立して、すべての手動操作を避けるために実に効率的な方法を提供しています。
ハードウェア環境
- オシロスコープ（Lecroy社 WaveRunner 44MXi-A）
- アンプ50ワット - 50オーム - 帯域幅10～20 MHz
- 低容量プローブ、ケーブルとコネクタを含むISO10373 - 6アンテナ
以下のリーダーのいずれか： - レイゾナンス社ProxiLAB
- SmartWave社US-CLT
- Micropross社MP300 TCL2