PICC application compliance test
完全なコンプライアンスのためのPICCアプリケーションテストスイート
IDLカード、市民カード、パスポート上のアプリケーション·テストを実行するためのものです。
- ISO準拠の運転免許書のためのテスト仕様(Test specification for ISO Compliant Driving Licence)
- IAS ECCテスト仕様(Test specification for IAS ECC test specification)
- ICAOレイヤー6/7のためのテスト仕様(Test specification for ICAO layers 6/7)
- EAC v1.11実装のためのテスト仕様(Test specification for EAC v1.11 implementation)
- SAC実装のためのテスト仕様( Test specification for SAC implementation)
PICCアプリケーションテストスイートのためのコンポーネント
IDテストスイートは、この需要に対処すると、次のコンポーネントに基づいて行われます。
< テストスイートのフレームユーザーインターフェース;Windows版 >
- SCRIPTISエディタ:オープンスクリプティング開発プラットフォーム
- SCRIPTISマネージャー:組織とテストスイートの実行を容易にするために設計されたソフトウェア
- SCRIPTIS Application Test Suite:
- “PICC application test suite, IDL”
- “PICC application test suite, IAS ECC”
- “PICC application test suite, ICAO layers 6&7”
- “PICC application test suite, EAC implementation”
- “PICC application test suite SAC”
IDL(PICCアプリケーションテストスイート)
<IDL用PICCアプリケーションテストスイート概要>
- ISO18013– Part4.で定義されている試験方法に従って、電子ドライビングライセンスのアプリケーションをテストすることができます。テストスクリプトは、次の仕様に準拠しています。
- PERSONAL IDENTIFICATION - ISO準拠の運転免許書
- パート4:試験方法
<ISO18013-のテスト仕様書の最新バージョンに基づいてのテストケース概要:ISO / IEC FDIS18013-4:2011(E)>
-
A.3 Test Layer SE_LDS – Logical Data Structure Tests
A.3.1 Test Unit SE_LDS_COM – Tests for EF.Com
A.3.2 Test Unit SE_LDS_DG1 – Tests for EF.DG1
A.3.3 Test Unit SE_LDS_DG2 – Tests for EF.DG2
A.3.4 Test Unit SE_LDS_DG3 – Tests for EF.DG3
A.3.5 Test Unit SE_LDS_DG4 – Tests for EF.DG4
A.3.6 Test Unit SE_LDS_DG5 – Tests for EF.DG5
A.3.7 Test Unit SE_LDS_DG6 – Tests for EF.DG6
A.3.8 Test Unit SE_LDS_DG7 – Tests for EF.DG7
A.3.9 Test Unit SE_LDS_DG8 – Tests for EF.DG8
A.3.10 Test Unit SE_LDS_DG9 – Tests for EF.DG9
A.3.11 Test Unit SE_LDS_SOD – Tests for EF.SOD
A.3.12 Test Unit SE_LDS_DG12 – Tests for EF.DG12
A.3.13 Test Unit SE_LDS_DG13 – Tests for EF.DG13
A.3.14 Test Unit SE_LDS_DG14 – Tests for EF.DG14B.3 Test Layer SE_ISO7816 - Security and Command Tests
B.3.1 Test Unit SE_ISO7816_SelDF – SELECT DF Command
B.3.2 Test Unit SE_ISO7816_SecBAP– Security conditions of BAP protected IDL
B.3.3 Test Unit SE_ISO7816_BAP – Basic Access Protection
B.3.4 Test Unit SE_ISO7816_SelEFSM – Protected SELECT EF Command
B.3.5 Test Unit SE_ISO7816_ReadEFSM – Protected READ BINARY Command
B.3.6 Test Unit SE_ISO7816_SelEF – Unprotected SELECT EF Command
B.3.7 Test Unit SE_ISO7816_ReadEF – Unprotected READ BINARY Command
B.3.8 Test Unit SE_ISO7816_AA – Active Authentication
B.3.9 Test Unit SE_ISO7816_SecEAP - Security Conditions for EAP protected IDL
B.3.10 Test Unit SE_ISO7816_CA - Chip Authentication
B.3.11 Test Unit SE_ISO7816_CertVer - Certificate verification
B.3.12 Test Unit SE_ISO7816_TA - Terminal Authentication
B.3.13 Test Unit SE_ISO7816_AccCond - Effective Access Conditions
B.3.14 Test Unit SE_ISO7816_Update - Update mechanism
B.3.15 Test Unit SE_ISO7816_Migration – Migration policies
NFCフォーラムテストベンチ
NFCフォーラム準拠アナログ・コンプライアンス・テスト
NFCフォーラム仕様の« ANALOG »部分を検証するテストスイートを提供します。このテストスイートには、ポーラーとリスナーの両方のモードでNFCフォーラムのデバイスに適用されます。
NFCフォーラム準拠アナログ・コンプライアンス・テスト仕様
次のテスト仕様書で定義されているテストスクリプト:
- NFC RFアナログ仕様のためのテスト仕様書
- NFC ForumTM - TWG -Draft20
- NFC Forum仕様概要(こちら)
NFCフォーラムテスト準拠のオープンテストスイート
- SCRIPTISフレームワーク(UI)を準備
- NFCフォーラム準拠アナログ・テストプログラムを準備
- ユーザ・ロジックをテストプログラムに追加修正可能
- 分析結果とテストレポートが自動的に生成
NFCフォーラムテスト・アナログテストのハードウェア環境
- ホストPC(Windows7 64bit/32bit, WindowsXP)
- レクロイ社 Wave Runner
- ProxiLAB(NFCシグナルプロトコルエミュレータ/NFCテスタ)
- NFC Forumフォーラム準拠アンテナ(Poller及びListener)
NFC関連のテストスイートおよび参照
- NFCフォーラム準拠デジタルテスト
- ECMA-362(NFCプロトコルテスト・ISO/IEC23917準拠)
- NFCテストを検討されている方へのアドバイス
NFCフォーラム準拠関連テスト及びその他テストスイート
NFCとは何ですか?
近距離通信(NFC)技術は、より単純で、取引を行う交換、デジタルコンテンツおよびタッチで電子機器を接続するために行うことで、世界中の消費者の生活をより簡単かつ便利になります。
TRAINING
SOLIATISトレーニングコース
SOLIATISは、既製のトレーニングセッションを提供します。
- スマートカード技術
- 目 的:どのようなターゲット市場(銀行は、IDは、GSM、アクセス制御など)されているスマートカード技術を記述することを目的
- 対象者: 使用されるカードができます専用のスマート方法を理解するすべての人々にする
- 期 間:3日 - EMVの"レベル1"
-目 的: "1レベルでのEMV"をカバーして情報を目指しているで記述する技術:機械的特性、電気的特性およびプロトコルインターフェイス("レベル2"と、アプリケーションレベルですが、訓練"の仕様と述べているが"のEMV)
- 対象者:バレッジ""レベルを専用のEMVを理解すると、すべての人々する1
- 時 間:半日 - EMV仕様
- 目 的:認証サーバとの通信までのカードと端末の間の交換からEMVのトランザクションの技術的なプロセスを記述することを目的と
- 対象者:約とEMVの可能性専用理解したいと、すべての人々
- 時 間:2日 - EMVの移行とインパクト
- 目 的: 銀行買収および/または発行の移行のためのEMVの目的への影響を主に記述する
- 対 象: 移行のEMVの専用の影響を一般的な理解したいと、すべての人々
- 期 間:2日 - ISO 14443の技術研修
- 目 的:ISOの14443の仕様を定義して近接非接触の標準を記述することを目的と
- 対 象:ISOの14443の仕様の内容を理解したいすべての人々
- 期 間:2日
SOLIATIS provides consulting
SOLIATISコンサルタント・サービス
SOLIATISコンサルタントでは、銀行、保健、トランスポートとモバイルなどのプロジェクトマネジメントと技術支援をたくさんの経験に基づいて行えます。
- ビジネスとシステムスタッフのトレーニング
- EMV目移行定義
- 既存のインフラストラクチャ分析
- 異なるEMVパス移行評価
- 適切なパスのためのプロジェクト計画の定義
- コスト調査
- パイロットプロジェクトの実施
- 運用デプロイメントプロジェクトの完全な管理まで。
Test suite 'Card - Application IAS ECC'
'欧州・市民カード・テストスイート~IAS ECC'
ECCのインフラストラクチャ内でのeサービスとして、欧州市民カード(IAS-ECC)アプリケーションの検証 - SOLIATISは識別より認証署名を検証するためのテストスイートを提供しています。
テスト仕様書
- GIXELグループ幹事、IASのECC仕様は、次の国際的かつヨーロッパ技術上の標準仕様:
- CEN TS 15480必須機能としてのアプリケーション部分
- prEN 14890-1:2006とprEN 14890-2:2006
- ISO 7816シリーズ
- EAC V1.11 - 次のGIXEL仕様で定義されているテストスクリプト:
- 電子サービスおよび全国e-IDはアプリケーション(ヨーロッパカード用)
- ECC IASテスト - 識別認証署名 - 欧州市民カード
オープンテストスイート
- テストスイートは、Soliatis社で開発されたSCRIPTIS Framework(ソフトウエア)をテストPCにインストールします。 制限修正が必要なスクリプト以外のテスト及びレポート作成を致します。 そして、テストや結果の分析を自動的に実行されます。
- 以下のパラメータは、構成ファイルから変更することができます:
- リーダー選択
- プロトコル選択、データーセット
ハードウェア環境
- すべてのPS/SC非接触型リーダー