ポジティブワン株式会社

PICC application compliance test

 完全なコンプライアンスのためのPICCアプリケーションテストスイート

IDLカード、市民カード、パスポート上のアプリケーション·テストを実行するためのものです。

• ISO準拠の運転免許書のためのテスト仕様（Test specification for ISO Compliant Driving Licence）
• IAS ECCテスト仕様（Test specification for IAS ECC test specification）
• ICAOレイヤー6/7のためのテスト仕様（Test specification for ICAO layers 6/7）
• EAC v1.11実装のためのテスト仕様（Test specification  for EAC v1.11 implementation）
• SAC実装のためのテスト仕様（ Test specification for SAC implementation）

PICCアプリケーションテストスイートのためのコンポーネント

IDテストスイートは、この需要に対処すると、次のコンポーネントに基づいて行われます。

< テストスイートのフレームユーザーインターフェース；Windows版 >

• SCRIPTISエディタ：オープンスクリプティング開発プラットフォーム
• SCRIPTISマネージャー：組織とテストスイートの実行を容易にするために設計されたソフトウェア

• SCRIPTIS Application Test Suite:
• “PICC application test suite, IDL”
• “PICC application test suite, IAS ECC”
• “PICC application test suite, ICAO layers 6&7”
• “PICC application test suite, EAC implementation”
• “PICC application test suite SAC”

IDL（PICCアプリケーションテストスイート）

<IDL用PICCアプリケーションテストスイート概要>

• ISO18013– Part4.で定義されている試験方法に従って、電子ドライビングライセンスのアプリケーションをテストすることができます。テストスクリプトは、次の仕様に準拠しています。
• PERSONAL IDENTIFICATION - ISO準拠の運転免許書
• パート4：試験方法

• A.3 Test Layer SE_LDS – Logical Data Structure Tests
  A.3.1 Test Unit SE_LDS_COM – Tests for EF.Com
  A.3.2 Test Unit SE_LDS_DG1 – Tests for EF.DG1
  A.3.3 Test Unit SE_LDS_DG2 – Tests for EF.DG2
  A.3.4 Test Unit SE_LDS_DG3 – Tests for EF.DG3
  A.3.5 Test Unit SE_LDS_DG4 – Tests for EF.DG4
  A.3.6 Test Unit SE_LDS_DG5 – Tests for EF.DG5
  A.3.7 Test Unit SE_LDS_DG6 – Tests for EF.DG6
  A.3.8 Test Unit SE_LDS_DG7 – Tests for EF.DG7
  A.3.9 Test Unit SE_LDS_DG8 – Tests for EF.DG8
  A.3.10 Test Unit SE_LDS_DG9 – Tests for EF.DG9
  A.3.11 Test Unit SE_LDS_SOD – Tests for EF.SOD
  A.3.12 Test Unit SE_LDS_DG12 – Tests for EF.DG12
  A.3.13 Test Unit SE_LDS_DG13 – Tests for EF.DG13
  A.3.14 Test Unit SE_LDS_DG14 – Tests for EF.DG14

  B.3 Test Layer SE_ISO7816 - Security and Command Tests
  B.3.1 Test Unit SE_ISO7816_SelDF – SELECT DF Command
  B.3.2 Test Unit SE_ISO7816_SecBAP– Security conditions of BAP protected IDL
  B.3.3 Test Unit SE_ISO7816_BAP – Basic Access Protection
  B.3.4 Test Unit SE_ISO7816_SelEFSM – Protected SELECT EF Command
  B.3.5 Test Unit SE_ISO7816_ReadEFSM – Protected READ BINARY Command
  B.3.6 Test Unit SE_ISO7816_SelEF – Unprotected SELECT EF Command
  B.3.7 Test Unit SE_ISO7816_ReadEF – Unprotected READ BINARY Command
  B.3.8 Test Unit SE_ISO7816_AA – Active Authentication
  B.3.9 Test Unit SE_ISO7816_SecEAP - Security Conditions for EAP protected IDL
  B.3.10 Test Unit SE_ISO7816_CA - Chip Authentication
  B.3.11 Test Unit SE_ISO7816_CertVer - Certificate verification
  B.3.12 Test Unit SE_ISO7816_TA - Terminal Authentication
  B.3.13 Test Unit SE_ISO7816_AccCond - Effective Access Conditions
  B.3.14 Test Unit SE_ISO7816_Update - Update mechanism
  B.3.15 Test Unit SE_ISO7816_Migration – Migration policies