LINコンフォーマンステスト認証概要
LINコンフォーマンステスト認証
1 ”LINコンフォーマンス・テスト認証”の意義
- 欧州自動車メーカは、自動車の安全保障の部分で第三者認証試験(コンフォーマンス・テスト)を実施することにより、生産性や保守性を上げてきました。言い換えれば、オリジナルなテスト項目、検証テスト、保障といったプロセスを標準規格及び認証試験合格をすることを第三者認証試験に依存することにより、その部分を自社リソースのみで行わないで済むというメリットがあります。
- その第三者認証試験(コンフォーマンス・テスト)として、車載ン標準LANプロトコルの一つであるLINのためのコンフォーマンスの整備がされ、欧州のほどんどの自動車メーカが、車載LINに接続するECUの調達としてコンフォーマンス・テストの開発プロセスに従っています。
- このことは、日本から欧州自動車産業に参入する際に、プロダクトが第三者認証試験(コンフォーマンス・テスト)認証を修得しているかが一つのキーワードとなります。
2 ”LINコンフォーマンス・テスト認証”の概要
- 2002年LIN仕様1.3がLINコンソーシアムにより公開
- 2003年LIN仕様2.0が公開され、コンフォーマンス・テストの軸が確立
- LIN仕様コンフォーマンス・テスト(以下図)
1 | LIN OSEレイヤ1 | 物理層 | -- |
2 | LIN OSEレイヤ2 | データーリンク層 |
(Node Configuration/ ネットワークマネジメント含む) |
3 | LIN EMC TEST | -- | -- |
3 ”LINコンフォーマンス・テスト認証”のテスト詳細
以下は、LINバージョンによって若干異なることがあります。あくまで以下は参照レベルとしてください
物理レイヤー(Physical Layer Test)
CONDITIONS – CALIBRATION
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Operating Voltage Range
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Signal Threshold Voltages
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IUT as Receiver
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Variation of VSUP_NON_OP
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IBUS Under Several Conditions
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IBUS_LIM @ Dominant State ( Driver On )
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IBUS_Pas_dom : IUT in Recessive State
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IBUS_Pas_rec : IUT in Recessive State
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Slope Control
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Measuring the Duty Cycle @ 10.kBit/sec – IUT as Transmitter
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Measuring the Duty Cycle @ 20.0 kBit/sec – IUT as Transmitter
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Propagation Delay
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Propagation Delay of the Receiver
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GND / VBAT Shift Test - Dynamic
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GND Shift Test – Dynamic – IUT as Transceiver
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VBAT Shift Test – Dynamic – IUT as Transceiver
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Failure
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Loss of Battery
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Loss of GND
OPERATION MODE
Termination
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Measuring Internal Resistor – IUT as Slave
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Measuring Internal Resistor – IUT as Master
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Measuring Internal Capacitance – IUT as Slave
データーリンク層(Data Link Layer Test/NCNM)
タイミングパラメータ(TIMING PARAMETERS)
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Length of Synch Break Low Phase, IUT as Master
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Variation of Length of Synch Break Low Phase, IUT as Slave
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Length of Synch Break Delimiter, IUT as Master
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Variation of Length of Synch Break Delimiter, IUT as Slave
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Length of Header, IUT as Master
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Variation of Length of Header, IUT as Slave
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Oscillator Tolerance, IUT as Master
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Oscillator Tolerance, IUT as Slave without Making Use of Synchronization
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Oscillator Tolerance, IUT as Slave with Making Use of Synchronization
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Length of Frame, IUT as Slave Answering to a Master Request
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IUT as Slave
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IUT as Master with a Slave Task
COMMUNICATION WITHOUT FAILURE
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Variation of LIN Identifier
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IUT as Master
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IUT as Slave
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IUT as Master with Slave Task
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Transmission of the Checksum Byte
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IUT as Slave
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IUT as Master with Slave Task
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Extended Frame, Reserved , IUT as Slave
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Command Frame 'Master Request', IUT as Master
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Command Frame 'Master Request', IUT as Slave
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Command Frame 'Slave Response Frame, IUT as Master
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Command Frame 'Slave Response Frame', IUT as Slave
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Supported Frames According to the IUT Specification', IUT as Slave
COMMUNICATION WITH FAILURE
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Bit Error, IUT as Slave
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Checksum Error, IUT as Slave
EVENT TRIGGERED FRAMES
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Event Triggered Frame, IUT as Slave
ノードコンフィグレーションネットワーク・マネジメントテスト(NCNM)
STATUS MANAGEMENT
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Error in Received Frame, IUT as Slave
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Error in Transmitted Frame, IUT as Slave
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Error in Transmitted Frame with Collision, IUT as Slave
SLEEP / WAKE UP TESTS
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Send Command Frame 'Sleep Mode Command', IUT as Master
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Receive Command Frame 'Sleep Mode Command', IUT as Slave
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Receive a Wake Up Request, IUT as Master
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Receive a Wake Up Request, IUT as Slave
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Send a Wake Up Request
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IUT as Slave and Master with Slave Task
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Send a Wake Up Request, No Following Frame Header from a Master, IUT as Slave
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Send a Wake Up Request, Frame Header from a Master Following, IUT as Slave
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Sleep Mode After Bus Idle
NODE CONFIGURATION
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Frame ID Assignment
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Frame ID Assignment – with Indirect Response
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Frame ID Assignment – with Direct Response
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LIN Product ID
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LIN Product ID – with Direct Response
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LIN Product ID – with Indirect Response
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Read by Identifier Command
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Read by Identifier Command with Correct NAD
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Read by Identifier Command with Incorrect NAD
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NAD Assignment
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NAD Assignment – Followed by ”Read by Identifier”
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NAD Assignment – with Positive Response
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Conditional Change NAD
EMC
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TEST SET-UP
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Immunity Against Transients
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RF-Immunity
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ESD
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Emission of RF Disturbances
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Test Circuit Board
REQUIREMENTS
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Immunity Against Transients
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Immunity Against RF Disturbances
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Immunity Against ESD
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Emission